직류 전압 전류 소스 / 모니터 6240B 반도체 테스트 년간 사용 된 6240A의 성능을 유지하고, 또한 새롭게 고속 응답 펄스 소스 및 측정 기능 할 수있는 저 저항의 측정 기능을 채택뿐만 커넥터 및 기타 부품의 테스트 접촉 저항. 반도체의 크기는 연도 별 작은 년 얻을하는 경향이있다. 바로 그 특성을 테스트하기 위해, 자기 발열을 방지 저 전류로 측정 할 필요가있다. 6240B 1 μS 해상도가 최소 펄스 폭 50 μs의 측정과 펄스 원을 수행하여 이러한 명령을 만난다. 즉, 측정 중에 그 자체 발열을 억제 반도체에 전압 또는 전류를 공급할 수있다.

더욱이, 온도 의존성 특성 평가 서서히 펄스 폭의 증가로 측정을 수행함으로써 가능하다. 손실없이 전기 신호를 전송하는데, 이러한 커넥터, 와이어 하니스와 션트 저항과 같은 전자 장치의 부품의 접촉 저항을 측정하는 것이 필수적이다.특히, 이종 금속 접촉은 측정 오차의 결과로, 열 기전력을 발생시킨다.

6240B는 20mV의 이하 JIS C5402에 따른 낮은 저항을 측정 할 수있는 "전자 기기에 사용되는 커넥터의 테스트를위한 방법." 이 측정은 열 기전력을 취소 내장 함수를 사용하여 매우 정밀하게 수행 할 수 있습니다.