Tektronix PatternPro® 시리즈의 프로그래밍 가능 패턴 발생기는 고속 데이터콤 테스트에 필요한 최대 4채널의 스트레스 패턴을 만들어 드립니다.

주요 성능 사양

• 낮은 고유 지터(일반 RJ < 250fs)
• 8ps 일반 20%~80% 상승/하강 시간(PPG3200 고정 출력 모델)
• 12ps 일반 20%~80% 상승/하강 시간(옵션 ADJ가 포함된 PPG3200)
• 가변 출력 진폭:
  • 옵션 ADJ가 포함된 PPG3200의 경우 300mV~1.0V
  • PPG1600 및 PPG3000 시리즈의 경우 250mV~2.0V
• 최대 5000UI에서 10Hz~10MHz의 저주파수, 고진폭 지터 삽입 범위(옵션 LFJIT가 포함된 PPG3200 시리즈)
• 변조 속도가 최대 2.5Gb/s인 BUJ 진폭 최대 50ps_p-p(옵션 HFJIT 사용)
• 35%~65%의 프로그래밍 가능 교차점(PPG1600 & PPG3000 시리즈)

주요 기능

• 16Gb/s, 30Gb/s 또는 32Gb/s의 출력 채널 1, 2개 또는 4개와 함께 사용 가능(모든 채널에서 독립적인 데이터)
• PED 시리즈 오류 감지기와 연결할 경우 완전한 종단 간 다중 채널 BER 테스트 솔루션 제공
• BUJ, SJ, RJ, PJ를 포함한 지터 삽입 옵션
• 다중 채널 장치에서 정렬된 데이터
• 최대 속도 내장 조정 가능 클럭 소스
• DC 커플된 차동 데이터 출력
• 프로그래밍 가능 출력 진폭, 오프셋 및 교차점
• PRBS 및 사용자 정의 패턴
• 조정 가능 채널 위상 지연
• 전면 패널 터치스크린 GUI 또는 USB 컴퓨터 제어

응용 분야

• 100G 이더넷에 대한 다중 채널 25Gb/s 테스트
• DQPSK 및 DP-QPSK 테스트
• CFP2 및 CFP4 테스트
• 다중 레벨 신호 테스트
• 반도체 및 구성 요소 테스트

제품 설명

텍트로닉스 PatternPro® 고성능 패턴 발생기 제품군은 최대 32Gb/s의 데이터 속도를 지원하는 단일/다중 채널 구성 기능을 제공합니다. PPG 제품군과 지터 삽입 기능(옵션)을 함께 사용하면 100기가비트의 이더넷, 32G의 광채널, PAM4, DP-QPSK 테스트, 광범위한 수신기 테스트 애플리케이션 같은 고속 애플리케이션을 지원하는 유연하고 비용 효율적이며 사용하기 쉬운 테스트 솔루션을 얻을 수 있습니다. 단일 장치 다중 채널 구성은 누화 차단 및 다중 채널 기능 테스트를 지원하는 정렬되고, 패턴 독립적인 데이터 출력을 제공합니다. PPG 제품군은 Tektronix PED 오류 감지기 제품군과 연결하여 완벽한 BER 테스트 기능을 제공할 수 있습니다.

다양한 값으로 데이터 속도를 프로그래밍할 수 있습니다(표시된 그림은 32Gb/s 버전). 출력은 내장된 PRBS 패턴 또는 프로그래밍된 사용자 정의 패턴으로 제공될 수 있습니다.

PPG3000 시리즈 패턴 발생기와 PED3200 시리즈 오류 감지기를 사용한 100G 이더넷 4 레인 종단 간 테스트

PAM4 신호 동작을 위해 외부 컴바이너로 구성된 PPG3202 2채널 PG 장치

텍트로닉스 가간섭성 광파 신호 분석기를 사용해 DP-QPSK 테스트를 수행할 수 있도록 구성된 PPG3204 4채널 PG 장치

32Gb/s에서 4채널 독립 출력 데이터

32Gb/s 및 14 Gb/s 프로그래밍 가능 데이터 속도

포괄적인 다중 레인 테스트를 수행할 수 있는 독립적으로 프로그래밍 가능한 출력 채널. 데이터 출력의 스큐/지연 범위는 100ps(채널 독립적)이며 이 범위는 조정 가능합니다(표시된 그림은 32Gb/s 버전).

28Gb/s일 때 PAM4 다이어그램

0ps, -50ps, +50ps의 프로그래밍된 데이터 스큐 값을 보여 주는 32Gb/s 사용자 정의 데이터